| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
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| GB/T 5839-1986 | 电子管和半导体器件额定值制 | 现行 | 1986-12-01 | 找相似 |
| GB/T 17940-2000 | 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 | 现行 | 2000-07-01 | 找相似 |
| GB/T 42848-2023 | 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
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| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
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| GB/T 11685-2003 | 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 | 现行 | 2004-01-01 | 找相似 |
| GB/T 14031-1992 | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
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| GB/T 14844-2018 | 半导体材料牌号表示方法 | 现行 | 2019-11-01 | 找相似 |
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| GB/T 43040-2023 | 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
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| GB/T 4937.1-2006 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则 | 现行 | 2007-02-01 | 找相似 |