| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 27583-2011 | 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法 | 现行 | 2011-12-05 | 2012-03-01 |
| GB/T 34261-2017 | 偏光片用光学薄膜 抗划伤的测试 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-04-01 |
| GB/T 37841-2019 | 塑料薄膜和薄片耐穿刺性测试方法 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| GB/T 40293-2021 | 红外硫系光学薄膜折射率测试方法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| T/QGCML 4624-2024 | 柔性薄膜压力传感器标定测试方法 | 现行 | 2024-08-16 | 2024-08-31 |
| T/XAI 7-2021 | 覆晶薄膜耐弯折性能测试方法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/GVS 005-2022 (2) | 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 | 现行 | 2022-03-28 | 2022-03-28 |
| T/CIE 132-2022 | 磁控溅射设备薄膜精度测试方 | 现行 | 2022-08-10 | 2022-08-10 |
| T/XAI 12-2021 | 覆晶薄膜基板电气检查测试方法 | 现行 | 2021-12-06 | 2021-12-10 |
| T/CGIA 006.1-2024 | 石墨烯材料 特性参数与测试方法——第1部分：薄膜 | 现行 | 2024-06-30 | 2024-06-30 |
| T/GVS 005-2022 | 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 | 现行 | 2022-03-28 | 2022-03-28 |
| T/CSTM 00313-2021 | 基于光谱反演的光学薄膜常数测试方法 | 现行 | 2021-10-18 | 2022-01-18 |
| T/CSTM 00537-2021 | 微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法 | 现行 | 2021-05-11 | 2021-08-11 |
| T/CSPSTC 25-2019 | 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法 | 现行 | 2019-08-28 | 2019-11-15 |
| GB/T 25256-2026 | 光学功能薄膜 离型膜180°剥离力和残余黏着率测试方法 | 即将实施 | 2026-03-31 | 2026-10-01 |
| JC/T 2409-2017 | 精细陶瓷薄膜结合力测试方法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| HG/T 6204-2023 | 光学聚酯薄膜 表面低聚物的测试方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |