HG/T 4079-2009 相似标准 第1页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
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T/IAWBS 010-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法现行2019-12-31——
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T/CAMMT 28-2020金属表面电解质等离子抛光工艺规范现行2020-12-10——
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GB/T 43313-2023碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法现行2024-06-01找相似
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-31——
SJ/T 11504-2015碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法现行2015-10-01找相似
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-31——
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