集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

Integrated circuit TSV 3D package reliability test methods guideline

GB/Z 43510-2023 指导性技术文件

现行

GB/Z 43510-2023 相似标准 第8页

更新时间 2026-10-27
标准号 标准名称 状态 实施日期 相似标准
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GB/T 16649.12-2010 识别卡 集成电路卡 第12部分:带触点的卡-USB电气接口和操作规程 现行 2011-04-01 找相似
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JR/T 0045.5-2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第5部分:非接触终端检测规范 现行 2014-07-30 找相似
JR/T 0025.15-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第15部分:电子现金双币支付应用规范 现行 2018-11-28 找相似
GB/T 15879.5-2018 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值 现行 2019-04-01 找相似
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GB/T 29271.2-2012 识别卡 集成电路卡编程接口 第2部分:通用卡接口 现行 2013-06-01 找相似
GB/T 15157.12-2011 频率低于3MHz的印制板连接器 第12部分:集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范 现行 2012-07-01 找相似
GB/T 29271.1-2012 识别卡 集成电路卡编程接口 第1部分:体系结构 现行 2013-06-01 找相似
GB/T 16649.4-2010 识别卡 集成电路卡 第4部分:用于交换的结构、安全和命令 现行 2011-04-01 找相似
GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器 现行 2007-09-01 找相似
JR/T 0025.1-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第1部分:总则 现行 2018-11-28 找相似