硅片字母数字标志规范

Specification for alphanumeric marking of silicon wafers

GB/T 34479-2017推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-27
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GB/T 34479-2017 相似标准 第5页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 32280-2022硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法现行2022-03-092022-10-01
GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 24577-2009热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法现行2009-10-302010-06-01
DB15/T 4004-2025温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 光伏硅片现行2025-04-182025-05-18
GB/T 30869-2014太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法现行2014-07-242015-02-01
GB/T 30701-2014表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定现行2014-03-272014-12-01
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GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法现行2018-12-282019-11-01
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YB/T 4397-2014切割硅片用电镀黄铜钢丝现行2014-05-062014-10-01
JC/T 2065-2011太阳能电池硅片用石英舟现行2011-12-202012-07-01
JC/T 2066-2011太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管现行2011-12-202012-07-01
HG/T 5962-2021硅片切割废液处理处置方法现行2021-08-212022-02-01
GB/T 37051-2018太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法现行2018-12-282019-04-01
GB/T 43315-2023硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法现行2023-11-272024-06-01