半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors(IGBT)

GB/T 29332-2012推荐性国家标准

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标准号标准名称状态发布日期实施日期
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GB/T 45716.1-2026半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验即将实施2026-04-302026-11-01
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GB/T 47239.9-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法即将实施2026-02-272026-09-01
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GB/T 47240.4-2026半导体器件 人体通信半导体接口 第4部分:胶囊内窥镜即将实施2026-02-272026-09-01
GB/T 47239.8-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法即将实施2026-02-272026-09-01
GB/T 20521.1-2026半导体器件 第14-1部分:半导体传感器 传感器总规范即将实施2026-04-302026-11-01
GB/T 42706.9-2026电子元器件半导体器件长期贮存 第9部分:特殊情况即将实施2026-04-302026-11-01
GB/T 42709.2-2026半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料拉伸试验方法即将实施2026-04-302026-11-01
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