Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors(IGBT)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4937.10-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 20521.4-2025 | 半导体器件 第14-4部分:半导体传感器 半导体加速度计 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 42706.7-2026 | 电子元器件半导体器件长期贮存 第7部分:微电子机械器件 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 15651.4-2026 | 半导体器件 第5-4部分:光电子器件半导体激光器 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 45716.1-2026 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 4937.201-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 47239.9-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 4937.28-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 47240.1-2026 | 半导体器件 人体通信半导体接口 第1部分:总则 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 47240.4-2026 | 半导体器件 人体通信半导体接口 第4部分:胶囊内窥镜 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 47239.8-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| GB/T 20521.1-2026 | 半导体器件 第14-1部分:半导体传感器 传感器总规范 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 42706.9-2026 | 电子元器件半导体器件长期贮存 第9部分:特殊情况 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 42709.2-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料拉伸试验方法 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 42709.3-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/Z 34954.2-2026 | 航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分:半导体集成电路寿命 | 现行 | 2026-07-02 | |
| GB/T 42709.35-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第35部分:柔性MEMS器件弯曲形变下的电特性测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 15879.620-2026 | 半导体器件的机械标准化 第6-20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形J形引线封装(SOJ)尺寸测量方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |