Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32278-2015 | 碳化硅单晶片平整度测试方法 | 废止 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 30866-2014 | 碳化硅单晶片直径测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 30867-2014 | 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 30868-2014 | 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| DB12/T 101.251-2003 | 工业产品取水定额 硅单晶片 | 废止 | 2003-09-03 | 2003-09-03 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/CECA 83-2023 | 钽酸锂和铌酸锂还原单晶晶片 明度和色差技术要求及测量方法 | 现行 | 2023-06-13 | 2023-06-20 |
| GB/T 22318.1-2023 | 声表面波谐振器 第1部分：总规范 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 27700.1-2023 | 有质量评定的声表面波滤波器 第1部分 ：总规范 | 现行 | 2023-08-06 | 2023-12-01 |
| GB/T 16747-2009 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 表面波纹度词汇 | 现行 | 2009-03-16 | 2009-11-01 |
| GB/T 43186.1-2023 | 有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第1部分 ：总规范 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 27700.1-2011 | 有质量评定的声表面波（SAW）滤波器 第1部分：总规范 | 废止 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| T/NSSQ 008-2022 | 石墨烯声表面波滤波器结构制备规范 | 现行 | 2022-11-25 | 2022-11-28 |
| GB/T 43186.2-2023 | 有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第2部分：使用指南 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 22318.2-2023 | 声表面波谐振器 第2部分：使用指南 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| JB/T 9924-2014 | 磨削表面波纹度 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |