Determination of boron, aluminum and nitrogen impurity content in silicon carbide single crystal—Secondary ion mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 35306-2023 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 42263-2022 | 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 35306-2017 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| JB/T 6647-2011 | 碳化物中总碳含量的测定 气体容量法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| GB/T 18876.3-2008 | 应用自动图像分析测定钢和其它金属中金相组织、夹杂物含量和级别的标准试验方法 第3部分 钢中碳化物级别的图像分析与体视学测定 | 现行 | 2008-05-13 | 2008-11-01 |
| T/CSTM 00660.2-2023 | 碳化钛渣化学分析方法 第2部分：钛含量的测定 硫酸铁铵滴定法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-07-21 |
| T/CSTM 00660.1-2023 | 碳化钛渣化学分析方法 第1部分：游离碳含量的测定 高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-07-21 |
| YS/T 422.3-2000 | 碳化铬化学分析方法 铁含量的测定 | 废止 | 2000-03-29 | 2000-10-01 |
| YS/T 423.5-2025 | 核级碳化硼化学分析方法 第5 部分：氧含量的测定 脉冲加热惰气熔融-红外吸收法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 423.4-2025 | 核级碳化硼化学分析方法 第4 部分：铁含量的测定 分光光度法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 423.3-2025 | 核级碳化硼化学分析方法 第3 部分：游离硼含量的测定 酸碱滴定法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 423.2-2025 | 核级碳化硼化学分析方法 第2 部分：总碳含量的测定 气体容量法和高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 423.1-2025 | 核级碳化硼化学分析方法 第1 部分：总硼含量的测定 酸碱滴定法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |