半导体单晶晶向测定方法

Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal

GB/T 1555-2023推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-15
格式:pdf

GB/T 1555-2023 相似标准 第15页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
DB61/T 1448-2021大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程废止2021-03-222021-04-22
GB/T 17574.9-2006半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范现行2006-12-052007-05-01
GB/T 17574.11-2006半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范现行2006-12-052007-05-01
GB/T 17574.20-2006半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范现行2006-12-052007-05-01
GB/T 20522-2006半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器现行2006-08-232007-02-01
GB/T 12750-2006半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)现行2006-08-232007-02-01
GB/T 20521-2006半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类现行2006-08-232007-02-01
GB/T 4376-1994半导体集成电路 电压调整器系列和品种现行1994-08-081995-04-01
GB/T 37031-2018半导体照明术语现行2018-12-282018-12-28
GB/T 21226-2007半导体变流器 变流联结的标识代号现行2007-12-032008-05-20
GB/T 21039.1-2007半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范现行2007-06-292007-11-01
GB/T 20516-2006半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件现行2006-10-102007-02-01
GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范现行2006-10-102007-02-01
GB/T 20515-2006半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路现行2006-10-102007-02-01
GB/T 17574.10-2003半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范现行2003-11-242004-08-01
GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性现行2003-11-242004-08-01
GB/T 19403.1-2003半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)现行2003-11-242004-08-01
GB/T 3859.4-2004半导体变流器 包括直接直流变流器的半导体自换相变流器现行2004-05-142005-02-01