Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
现行
2003-11-24
2004-08-01
GB/T 19403.1-2003
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部（电子）
该标准采用国际标准
L56
31.200
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
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