Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 8757-2006 | 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 8760-2020 | 砷化镓单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2020-09-29 | 2021-08-01 |
| GB/T 25075-2010 | 太阳能电池用砷化镓单晶 | 废止 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| GB/T 18032-2000 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | 现行 | 2000-04-03 | 2000-09-01 |
| GB/T 35305-2026 | 太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11497-2015 | 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| JJF 2064-2023 | 多结砷化镓太阳电池校准规范 光谱响应度 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-12-30 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 8760-2006 | 砷化镓单晶位错密度的测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| DB12/T 101.253-2003 | 工业产品取水定额 砷化镓抛光片 | 废止 | 2003-09-03 | 2003-09-03 |
| YS/T 1744-2025 | 半绝缘砷化镓单晶衬底片 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |
| GB/T 30855-2014 | LED外延芯片用磷化镓衬底 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 30854-2014 | LED发光用氮化镓基外延片 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 37053-2018 | 氮化镓外延片及衬底片通用规范 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 45340-2025 | 金属及其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 斐索多光束干涉法 | 现行 | 2025-02-28 | 2025-09-01 |