Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 23-2016 | 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| YS/T 15-2015 | 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| YS/T 23-1992 | 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法 | 废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 15-1991 | 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 | 废止 | 1991-04-26 | 1992-06-01 |
| YS/T 14-1991 | 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法 | 废止 | 1991-04-26 | 1992-06-01 |
| GB/T 30110-2013 | 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| SN/T 0837.3-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第3部分：铁含量的测定 | 现行 | 2011-02-25 | 2011-07-01 |
| SN/T 0837.1-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第1部分：三氧化二砷含量的测定 | 现行 | 2011-02-25 | 2011-07-01 |
| GB/T 6730.45-2025 | 铁矿石 砷含量的测定 砷化氢分离—砷钼蓝分光光度法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| SN/T 0837.2-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第2部分：水分的测定 | 现行 | 2011-02-25 | 2011-07-01 |
| YS/T 519.2-2009 | 砷化学分析方法 第2部分：锑量的测定 孔雀绿分光光度法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 34.3-2011 | 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 34.1-2011 | 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 34.2-2011 | 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 519.1-2009 | 砷化学分析方法 第1部分：砷量的测定 溴酸钾滴定法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 519.3-2009 | 砷化学分析方法 第3部分：硫量的测定 硫酸钡重量法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |
| YS/T 519.4-2009 | 砷化学分析方法 第4部分：铋、锑、硫量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2009-12-04 | 2010-06-01 |