Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 36705-2018 | 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 37466-2019 | 氮化镓激光剥离设备 | 现行 | 2019-06-04 | 2019-10-01 |
| GB/T 39144-2020 | 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| T/CASAS 022-2022 | 三相智能电表用氮化镓场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2022-12-09 | 2022-12-09 |
| T/ZSA 231-2024 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2024-05-15 | 2024-05-16 |
| T/CASAS 031-2023 | 面向5G基站应用的Sub-6GHz氮化镓功放 模块测试方法 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-07-01 |
| T/CASAS 005-2022 | 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2022-09-16 | 2022-09-16 |
| T/CASAS 035-2024 | 用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/CASAS 034-2024 | 用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/IAWBS 015-2021 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YS/T 1654-2023 | 氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1653-2023 | 氮化镓衬底片 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| SJ/T 11396-2009 | 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片 | 废止 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| GB/T 20229-2006 | 磷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |