| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11490-2015 | 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11496-2015 | 红外吸收法测量砷化镓中硼含量 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11497-2015 | 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| JJF 2064-2023 | 多结砷化镓太阳电池校准规范 光谱响应度 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-12-30 |
| GB/T 30856-2014 | LED外延芯片用砷化镓衬底 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 47901-2026 | 激光器外延芯片用砷化镓衬底 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| DB12/T 101.253-2003 | 工业产品取水定额 砷化镓抛光片 | 废止 | 2003-09-03 | 2003-09-03 |
| GB/T 32282-2015 | 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 20229-2022 | 磷化镓单晶 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 41751-2022 | 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| GB/T 32188-2015 | 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| T/ZSA 231-2024 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2024-05-15 | 2024-05-16 |
| T/IAWBS 015-2021 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| GB/T 20229-2006 | 磷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| SN/T 0837.3-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第3部分：铁含量的测定 | 现行 | 2011-02-25 | 2011-07-01 |
| SN/T 0837.1-2011 | 进出口三氧化二砷化学分析方法 第1部分：三氧化二砷含量的测定 | 现行 | 2011-02-25 | 2011-07-01 |