| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-31 | —— |
| T/IAWBS 003-2017 | 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法 | 现行 | 2017-12-31 | —— |
| T/ZJATA 0017-2023 | 制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备 | 现行 | 2023-07-20 | —— |
| T/CNIA 0061-2020 | 硅外延用四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2020-08-01 | —— |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2021-01-01 | —— |
| T/CASAS 001-2018 | 碳化硅肖特基势垒二极管通用技术规范 | 现行 | 2018-09-21 | —— |
| T/CASAS 001-2018 | 碳化硅肖特基势垒二极管通用技术规范 | 现行 | 2018-09-21 | —— |
| DB61/T 1250-2019 | Sic（碳化硅）材料半导体分立器件通用规范 | 废止 | 2019-07-25 | 找相似 |
| JC/T 3124-2026 | 同质聚氯乙烯卷材地板生产成套装备通用技术要求 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| DB3301/T 0428-2023 | “同线同标同质”产品管理 通用要求 | 废止 | 2024-01-31 | —— |
| JB/T 6374-2020 | 机械密封用碳化硅密封环 技术条件 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| JB/T 4035-1999 | 阀式避雷器用碳化硅技术条件 | 现行 | 2000-01-01 | 找相似 |
| GB/T 10067.417-2023 | 电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分：碳化硅单晶生长装置 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| T/CIET 1282-2025 | 反应烧结碳化硅/碳化硼陶瓷板技术要求 | 现行 | 2025-05-14 | —— |
| T/CIET 1279-2025 | 碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT） | 现行 | 2025-05-14 | —— |
| T/NXCL 011-2022 | 窑具用碳化硅微粉技术规范 | 现行 | 2022-11-18 | —— |
| JB/T 6374-2006 | 机械密封用碳化硅密封环 技术条件 | 废止 | 2007-07-01 | 找相似 |