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GB/T 13151-2005
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半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 |
现行 |
2005-10-01 |
找相似 |
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GB/T 13150-2005
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半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范 |
现行 |
2005-10-01 |
找相似 |
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GB/T 11685-2003
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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 |
现行 |
2004-01-01 |
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GB/T 18904.1-2002
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半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 |
现行 |
2003-05-01 |
找相似 |
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GB/T 6589-2002
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半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范 |
现行 |
2003-05-01 |
找相似 |
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GB/T 18904.4-2002
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半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范 |
现行 |
2003-05-01 |
找相似 |
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GB/T 18904.2-2002
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半导体器件 第12-2部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范 |
现行 |
2003-05-01 |
找相似 |
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GB/T 14031-1992
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半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
现行 |
1993-08-01 |
找相似 |
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GB/T 44181-2024
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空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法 |
现行 |
2024-07-24 |
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GB/T 15653-1995
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金属氧化物半导体气敏元件测试方法 |
现行 |
1996-04-01 |
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GB/T 14844-2018
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半导体材料牌号表示方法 |
现行 |
2019-11-01 |
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GB/T 15529-1995
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半导体发光数码管空白详细规范 |
现行 |
1995-11-01 |
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GB/T 39771.1-2021
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半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法 |
现行 |
2021-10-01 |
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GB/T 43040-2023
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半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 |
现行 |
2024-04-01 |
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DB61/T 1448-2021
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大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程 [陕西省] |
废止 |
2021-04-22 |
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GB/T 17574.9-2006
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半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
现行 |
2007-05-01 |
找相似 |
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GB/T 17574.11-2006
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半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 |
现行 |
2007-05-01 |
找相似 |
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GB/T 17574.20-2006
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半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范 |
现行 |
2007-05-01 |
找相似 |