| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1600-2023 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-11-01 | 找相似 |
| SN/T 1043-2002 | 进出口碳化硅中三氧化二铝的测定--分光光度法 | 废止 | 2002-06-01 | 找相似 |
| JB/T 6647-1993 | 碳化物中总含碳量的测定 气体容量法 | 废止 | 1994-01-01 | 找相似 |
| T/IAWBS 003-2017 | 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法 | 现行 | 2017-12-31 | —— |
| YS/T 1738-2025 | 铸造碳化钨粉 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-11-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.9-2021 | 连续碳化硅纤维测试方法 第9部分：碳含量 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| SN/T 1039-2020 | 进出口吨包装碳化硅取样制样方法 | 现行 | 2021-03-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.2-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第2部分：单纤维直径 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| GB/T 40067-2021 | 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.1-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第1部分：束丝上浆率 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2023-04-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.3-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第3部分：线密度和密度 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.4-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第4部分：束丝拉伸性能 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| JB/T 6371-2008 | 碳化纤维编织填料 试验方法 | 现行 | 2008-07-01 | 找相似 |
| GB/T 34520.5-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第5部分：单纤维拉伸性能 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 现行 | 2026-02-01 | 找相似 |