| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 30859-2014 | 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CPIA 0091-2024 | 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 光伏硅片 | 现行 | 2024-12-15 | 2024-12-30 |
| YS/T 26-2016 | 硅片边缘轮廓检验方法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| SJ/T 11628-2016 | 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11627-2016 | 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11632-2016 | 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11630-2016 | 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11631-2016 | 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| SJ/T 11629-2016 | 太阳能电池用硅片和电池片的在线光致发光分析方法 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-09-01 |
| GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| YS/T 26-1992 | 硅片边缘轮廓检验方法 | 废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 22462-2008 | 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法 | 现行 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 44075-2024 | 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 | 现行 | 2024-05-28 | 2024-12-01 |
| GB/T 33498-2017 | 表面化学分析 纳米结构材料表征 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |