Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JT/T 692.2-2022 | 逆反射材料色度性能测试方法 第2部分：荧光反光膜和荧光反光标记材料昼间色 | 现行 | 2022-09-13 | 2022-12-13 |
| JT/T 692.1-2022 | 逆反射材料色度性能测试方法 第1部分：逆反射体夜间色 | 现行 | 2022-09-13 | 2022-12-13 |
| GB/T 27583-2011 | 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法 | 现行 | 2011-12-05 | 2012-03-01 |
| GB/T 13170-2011 | 反射式电视测试图 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-07-01 |
| DB13/T 2542-2017 | 路面太阳辐射反射率测试规程 | 现行 | 2017-07-17 | 2017-09-18 |
| GB/T 26070-2010 | 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 37131-2018 | 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2018-12-28 |
| GB/T 34334-2017 | 光热玻璃反射镜面形测试方法 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-09-01 |
| GB/T 29295-2012 | 反射型自镇流LED灯性能测试方法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| GB/T 37131-2018 | 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法（外文版EN） | 现行 | 2023-11-02 | |
| YD/T 2800-2015 | PON网络测试诊断技术要求 PON设备内置光时域反射仪（OTDR） | 现行 | 2015-05-05 | 2015-07-01 |
| YD/T 3013-2016 | 无源光网络（PON）测试诊断技术要求 光时域反射仪（OTDR）数据格式 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-04-01 |
| YS/T 121.1-1992 | 有色金属加工企业火焰反射熔炼炉热平衡测试与计算方法 | 现行 | 1992-12-25 | 1993-04-01 |
| YD/T 3433-2018 | 用于OTDR测试的ONU光模块内置波长选择性反射器技术要求和测试方法 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-04-01 |
| SJ/T 11322-2006 | 反射面天线及伺服传动系统机械性能测试方法 | 现行 | 2006-01-17 | 2006-02-01 |
| JJF 1966-2022 | 雷达散射截面法材料反射率测试系统校准规范 | 现行 | 2022-04-29 | 2022-10-29 |
| JT/T 691-2007 | 水平涂层逆反射亮度系数测试方法 | 废止 | 2007-06-28 | 2007-10-01 |
| JT/T 692-2007 | 夜间条件下逆反射体色度性能测试方法 | 废止 | 2007-06-28 | 2007-10-01 |