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更新日期 2026‑10‑15
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 43885-2024碳化硅外延片现行2024-04-252024-11-01
GB/T 14847-2010重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法废止2011-01-102011-10-01
GB/T 29056-2012硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法废止2012-12-312013-10-01
SJ/T 10481-1994硅外延层电阻率的面接触三探针方法现行1994-04-111994-10-01
SJ/T 11275-2002卧式液相外延系统通用规范现行2002-10-302003-03-01
GB/T 14141-2009硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法现行2009-10-302010-06-01
YS/T 23-2016硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法现行2016-04-052016-09-01
GB/T 35308-2017太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片现行2017-12-292018-07-01
YS/T 24-2016外延钉缺陷的检验方法现行2016-04-052016-09-01
GB/T 30855-2014LED外延芯片用磷化镓衬底现行2014-07-242015-04-01
GB/T 30854-2014LED发光用氮化镓基外延片现行2014-07-242015-04-01
GB/T 30856-2025LED外延芯片用砷化镓衬底现行2025-08-012026-02-01
GB/T 37053-2018氮化镓外延片及衬底片通用规范现行2018-12-282019-07-01
GB/T 14146-2021硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法现行2021-05-212021-12-01
GB/T 42902-2023碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法现行2023-08-062024-03-01