Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1553-2009 | 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 33945-2017 | 电机整流子换向片用铬锆铜棒材 | 现行 | 2017-07-12 | 2018-02-01 |
| YS/T 1350-2020 | 电机整流子用银无氧铜异型线坯 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| T/ZZB 1104-2019 | 电机整流子用银无氧铜带材 | 现行 | 2019-05-08 | 2019-05-31 |
| YS/T 1043-2015 | 电机整流子用银无氧铜带材 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| T/ZZB 1104-2019 | 电机整流子用银无氧铜带材 | 现行 | 2019-05-08 | 2019-05-31 |
| GB/T 30654-2014 | Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 30655-2014 | 氮化物LED外延片内量子效率测试方法 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 30110-2013 | 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30653-2014 | Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 42902-2023 | 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 14847-2025 | 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法（外文版EN） | 现行 | 2024-04-12 | |
| SJ/T 11471-2014 | 发光二极管外延片测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| HB 5795-2023 | 航空电线载流量 | 现行 | 2023-12-29 | 2024-07-01 |