Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 33768-2017 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2017-12-01 | 找相似 |
| GB/T 21194-2007 | 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求 | 现行 | 2008-05-01 | 找相似 |
| T/CASAS 028-2023 | Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法 | 现行 | 2023-07-01 | —— |
| YD/T 2342-2011 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2012-02-01 | 找相似 |
| SJ/T 11378.7-2015 | 等离子体显示器件 第7部分：数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SJ/T 11845.1-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求 | 现行 | 2023-01-01 | 找相似 |
| YD/T 6449-2025 | 通信用非气密光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2025-11-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.41-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| T/ZSA 47-2020 | 电动汽车用功率半导体器件可靠性试验方法 | 现行 | 2020-12-07 | —— |
| T/CIE 144-2022 | 半导体器件可靠性强化试验方法 | 现行 | 2023-01-31 | —— |
| SJ/T 12068-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30093-2013 | 自动化控制系统可靠性技术评审程序 | 现行 | 2014-05-01 | 找相似 |
| NB/T 10926-2022 | 风力发电机组 液压变桨控制系统可靠性技术规范 | 现行 | 2022-11-13 | 找相似 |
| DL/T 261-2022 | 火力发电厂热工自动化系统可靠性评估技术导则 | 现行 | 2022-11-13 | 找相似 |