Eddy current decay method formeasurement of resistivity and residual resistance ratio of pure metals
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1992-03-01 | 相似 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2010-06-01 | 相似 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| GB/T 3048.2-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第2部分：金属材料电阻率试验 | 现行 | 2008-05-01 | 相似 |
| JB/T 6773-2011 | 金属石墨制品的电阻率试验方法 | 现行 | 2012-04-01 | 相似 |
| GB/T 5167-2018 | 烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定 | 现行 | 2019-06-01 | 相似 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2020-02-01 | 相似 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-30 | —— |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-12-01 | —— |
| JB/T 6773-1993 | 金属石墨制品电阻率试验方法 | 废止 | 1993-10-01 | 相似 |
| GB/T 5167-1985 | 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 | 废止 | 1986-02-01 | 相似 |
| GB/T 25897-2020 | 剩余电阻比测量 铌-钛（Nb-Ti）和铌三锡（Nb3Sn）复合超导体剩余电阻比测量 | 现行 | 2021-07-01 | 相似 |
| GB/T 45506-2025 | 剩余电阻比测量 谐振腔级铌超导体剩余电阻比测量 | 现行 | 2025-11-01 | 相似 |
| GB/T 25897-2010 | 超导电性：铌-酞复合超导体剩余电阻比测定 | 废止 | 2011-05-01 | 相似 |
| GB/T 41606-2022 | 钛酸钡基高抗电强度低电阻率热敏陶瓷 | 现行 | 2023-02-01 | 相似 |
| MT/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1999-04-01 | 相似 |