首页/GB/T 31958-2023 相似标准

非晶硅薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃

Substrate glass for amorphous silicon thin film transistor liquid crystal display device

GB/T 31958-2023推荐性国家标准

现行

上传时间：2026-03-14
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GB/T 31958-2023 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 10333-1993单结晶体管测试方法现行1993-03-241993-10-01
SJ/T 10439-1993双极型晶体管直流参数测试仪测试方法现行1993-12-171994-06-01
SJ/T 10064-1991BT32型PN硅单结晶体管详细规范现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10066-1991BT37型PN硅单结晶体管详细规范现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10052-19913CD507型硅PNP低频放大管壳额定的双极型晶体管现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 11225-2000电子元器件详细规范 3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管现行2000-08-162000-10-01
SJ/T 11226-2000电子元器件详细规范 3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管现行2000-08-162000-10-01
SJ/T 10049-19913DA1162型晶体管详细规范现行1991-04-081991-07-01
SJ/T 10065-1991BT33型PN硅单结晶体管详细规范现行1991-04-081991-07-01
GB/T 10067.34-2015电热装置基本技术条件 第34部分：晶体管式高频感应加热装置现行2015-10-092016-05-01
T/CASAS 022-2022三相智能电表用氮化镓场效应晶体管通用技术规范现行2022-12-092022-12-09
T/CI 161-20221 200 V和1 700 V电压等级绝缘栅双极型 晶体管（IGBT）驱动器现行2022-12-152022-12-15
T/CASAS 005-2022用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2022-09-162022-09-16
T/CASAS 035-2024用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法现行2024-09-302024-09-30
T/CASAS 034-2024用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2024-09-302024-09-30
T/CASAS 016-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法现行2022-07-182022-07-18
T/CASAS 015-2022碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）功率循环试验方法现行2022-07-182022-07-18
T/CASAS 006-2020碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范现行2020-12-282021-01-01