Generic reliability assurance requirements for optoelectronic devices used in telecommunications equipment
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4937.41-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| T/ZSA 47-2020 | 电动汽车用功率半导体器件可靠性试验方法 | 现行 | 2020-12-06 | 2020-12-07 |
| T/CIE 144-2022 | 半导体器件可靠性强化试验方法 | 现行 | 2022-12-31 | 2023-01-31 |
| SJ/T 12068-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 13426-1992 | 数字通信设备的可靠性要求和试验方法 | 现行 | 1992-03-10 | 1992-12-01 |
| YD/T 612 -1993 | 传真通信设备可靠性指标及试验方法 | 废止 | 1993-01-18 | 1993-07-01 |
| YD/T 2578.1-2013 | LTE FDD数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法（第一阶段） 第1部分：基本功能、业务和可靠性测试 | 现行 | 2013-07-22 | 2013-07-22 |
| SJ/T 10654-1995 | 短波单边带通信设备可靠性试验的一般要求 | 现行 | 1995-08-18 | 1995-01-01 |
| YD/T 2576.1-2013 | TD-LTE数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法（第一阶段） 第1部分：基本功能、业务和可靠性测试 | 现行 | 2013-07-22 | 2013-07-22 |
| YD/T 7386-2026 | 5G数字蜂窝移动通信网 面向低时延高可靠（uRLLC）的基站设备技术要求和测试方法（第一阶段） | 即将实施 | 2026-07-15 | 2026-11-01 |
| YD/T 7387-2026 | 5G数字蜂窝移动通信网 面向低时延高可靠（uRLLC）的终端设备技术要求和测试方法（第一阶段） | 即将实施 | 2026-07-15 | 2026-11-01 |
| GB/T 37963-2019 | 电子设备可靠性预计模型及数据手册 | 现行 | 2019-08-30 | 2019-12-01 |
| SJ/T 10388-1993 | 电子工业专用设备可靠性术语 | 现行 | 1993-09-28 | 1994-01-01 |
| SJ/T 10386-1993 | 电子工业专用设备可靠性验证试验方法 | 现行 | 1993-09-28 | 1994-01-01 |