| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43590.511-2026 | 激光显示器件 第5-11部分：激光光源模组光学测试方法 | 即将实施 | ||
| SJ/T 12077.5.18-2025 | 激光显示器件 第5-18部分：栅格式光纤扫描激光显示光学测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-04-01 |
| SJ/T 12077.5.16-2025 | 激光显示器件 第5-16部分 激光显示用波长转换元件测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-04-01 |
| SJ/T 12077.5.12-2025 | 激光显示器件 第5-12部分：光机模组测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-04-01 |
| GB/T 38001.54-2026 | 柔性显示器件 第5-4部分：可拉伸光学性能测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 43798-2024 | 平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 43793.1-2024 | 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第1部分：理化性能 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 43793.3-2024 | 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第3部分：可靠性 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 43793.2-2024 | 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第2部分：光学性能 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 43313-2023 | 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 19921-2018 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/IAWBS 014-2021 | 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 11503-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11504-2015 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 19921-2005 | 硅抛光片表面颗粒测试方法 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |