| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JJF 2181-2024 | 塑料薄膜和薄片氧气透过率测试仪校准规范 | 现行 | 2024-10-19 | 2025-04-19 |
| JJF 2174-2024 | 旋光仪及旋光糖量计用低透过率模拟器校准规范 | 现行 | 2024-10-19 | 2025-04-19 |
| JB/T 9426.11-1999 | 电影摄影物镜 透过率的测定方法 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 15331-1994 | 压敏胶粘带水蒸汽透过率试验方法 | 废止 | 1994-12-22 | 1995-10-01 |
| GB/T 43019.6 -2025 | 塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定 第6部分：电离质谱仪法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| WJ/T 742-2014 | 光学仪器用胶透过率试验方法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 |
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 4326-2006 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 4326-2025 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/ZZB 2283-2021 | 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 | 现行 | 2021-08-26 | 2021-09-26 |
| T/NXCL 28-2024 | 半导体级单晶硅生长用合成石英坩埚 | 现行 | 2024-02-02 | 2024-02-02 |
| GB/T 1555-2009 | 半导体单晶晶向测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| T/CEMIA 024-2021 | 半导体单晶硅生长用石英坩埚生产规范 | 现行 | 2021-07-15 | 2021-12-25 |
| T/CEMIA 023-2021 | 半导体单晶硅生长用石英坩埚 | 现行 | 2021-07-15 | 2021-12-25 |
| GB/T 13477.15-2017 | 建筑密封材料试验方法 第15部分：经过热、透过玻璃的人工光源和水曝露后粘结性的测定 | 现行 | 2017-05-31 | 2018-04-01 |
| GB/T 19789-2021 | 包装材料 塑料薄膜和薄片氧气透过性试验 库仑计检测法 | 现行 | 2021-10-11 | 2022-05-01 |
| GB/T 17146-2015 | 建筑材料及其制品水蒸气透过性能试验方法 | 现行 | 2015-12-31 | 2016-11-01 |