Connecting devices—Devices for the connection of aluminium conductors in clamping units of any material and copper conductors in aluminium bodied clamping units
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 18310.22-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-22部分:试验 温度变化 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.5-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-5部分:检查和测量 衰减对波长的依赖性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.4-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-4部分:检查和测量 衰减 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 19404-2003 | 微波铁氧体器件主要性能测量方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.14-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-14部分:试验 最大输入功率 | 废止 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.17-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.1-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-1部分:检查和测量 外观检查 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 15651.3-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.26-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-26部分:试验 盐雾 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 19403.1-2003 | 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路) | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 19405.1-2003 | 表面安装技术 第1部分:表面安装元器件规范的标准方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18310.45-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-45部分:试验 浸水耐久性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 2900.66-2004 | 电工术语 半导体器件和集成电路 | 现行 | 2004-05-10 | 2004-12-01 |
| GB/T 18310.9-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-9部分:试验 冲击 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18904.5-2003 | 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 | 现行 | 2003-01-24 | 2003-08-01 |
| GB/T 18500.2-2001 | 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 18500.1-2001 | 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |