| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10435-1993 | 半导体电阻应变计总规范 | 现行 | 1994-06-01 | 找相似 |
| SJ/T 10436-1993 | 半导体电阻应变计空白详细规范 | 现行 | 1994-06-01 | 找相似 |
| JJF 1046-1994 | 金属电阻应变计的工作特性技术规范 | 现行 | 1994-04-06 | 找相似 |
| GB/T 3408.1-2008 | 大坝监测仪器 应变计 第1部分：差动电阻式应变计 | 现行 | 2008-05-01 | 找相似 |
| GB/T 13992-2010 | 金属粘贴式电阻应变计 | 现行 | 2011-05-01 | 找相似 |
| DL/T 1044-2022 | 钢弦式应变计 | 现行 | 2023-05-04 | 找相似 |
| GB/T 3408.2-2008 | 大坝监测仪器 应变计 第2部分：振弦式应变计 | 现行 | 2008-10-01 | 找相似 |
| DL/T 1044-2007 | 钢弦式应变计 | 废止 | 2007-12-01 | 找相似 |
| JB/T 7483-2005 | 半导体电阻应变式力传感器 | 现行 | 2005-11-01 | 找相似 |
| JB/T 7483-1994 | 半导体电阻应变式力传感器 | 废止 | 1995-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.40-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 2658.5-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 47239.9-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| GB/T 47239.8-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| GB/T 47239.6-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |