|
GB/T 18239-2000
|
集成电路(IC)卡读写机通用规范 |
现行 |
2001-08-01 |
找相似 |
|
GB/T 43035-2023
|
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求 |
现行 |
2023-09-07 |
找相似 |
|
GB/T 35004-2018
|
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 |
现行 |
2018-08-01 |
找相似 |
|
GB/T 9178-1988
|
集成电路术语 |
现行 |
1988-10-01 |
找相似 |
|
GB/T 43034.3-2023
|
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
现行 |
2024-01-01 |
找相似 |
|
GB/T 11498-2018
|
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
现行 |
2019-07-01 |
找相似 |
|
GB/T 43863-2024
|
大规模集成电路（LSI） 封装 印制电路板共通设计结构 |
现行 |
2024-08-01 |
找相似 |
|
GB/T 20870.10-2023
|
半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序 |
现行 |
2024-01-01 |
找相似 |
|
GB/T 16649.13-2013
|
识别卡 集成电路卡 第13部分：在多应用环境中的应用管理命令 |
现行 |
2014-05-01 |
找相似 |
|
GB/T 44807.1-2024
|
集成电路电磁兼容建模 第1部分：通用建模框架 |
现行 |
2024-10-26 |
找相似 |
|
GB/T 43034.2-2024
|
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
现行 |
2024-10-26 |
找相似 |
|
GB/T 44806.1-2024
|
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义 |
现行 |
2024-10-26 |
找相似 |
|
GB/T 16649.2-2024
|
识别卡 集成电路卡 第2部分：带触点的卡 触点的尺寸和位置 |
现行 |
2025-03-01 |
找相似 |
|
GB/T 42968.2-2024
|
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 |
现行 |
2024-10-26 |
找相似 |
|
GB/T 44937.4-2024
|
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 |
现行 |
2024-12-31 |
找相似 |
|
GB/T 20870.4-2024
|
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关 |
现行 |
2024-10-26 |
找相似 |
|
GB/T 16649.3-2024
|
识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡 电接口和传输协议 |
现行 |
2025-03-01 |
找相似 |
|
GB/T 42968.4-2024
|
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法 |
现行 |
2024-12-31 |
找相似 |