| JB/T 10616-2006 | 强磁体金属薄膜磁敏电阻 | 现行 | 2007-03-01 | 找相似 |
| DB34/T 2844.3-2017 | 大型低温超导磁体结构部件设计准则 第 3 部分：非金属部件 [安徽省] | 废止 | 2017-04-30 | 找相似 |
| DB34/T 2844.2-2017 | 大型低温超导磁体结构部件设计准则 第 2 部分：金属部件 [安徽省] | 废止 | 2017-04-30 | 找相似 |
| GB/T 17711-1999 | 钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法 | 现行 | 1999-10-01 | 找相似 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 [江苏省] | 现行 | 2022-11-23 | 找相似 |
| GB/T 33398-2016 | 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 表面电阻测定方法 | 现行 | 2017-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 10219-1991 | 薄膜电阻器制造质量控制要点 | 现行 | 1991-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 1146-1993 | 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法 | 废止 | 1994-06-01 | 找相似 |
| GB/T 22586-2008 | 高温超导薄膜微波表面电阻测试 | 废止 | 2009-05-01 | 找相似 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2010-06-01 | 找相似 |
| DB52/T 842-2013 | RR1608、RR2012、RR3216型片式薄膜固定电阻器详细规范 [贵州省] | 废止 | 2013-12-01 | 找相似 |
| YB/T 6166-2024 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 | 现行 | 2024-10-01 | 找相似 |
| T/ACCEM 353-2024 | 车规抗硫化薄膜高精度电阻器的制造工艺技术规范 | 现行 | 2025-01-04 | —— |
| GB/T 31838.9-2026 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 47239.6-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| DB34/T 4255-2022 | 超导磁体制造过程管理规范 [安徽省] | 现行 | 2022-09-30 | 找相似 |
