Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry—Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 12823.4-2008 | 摄影 密度测量 第4部分：反射密度的几何条件 | 现行 | 2009-05-01 | 找相似 |
| GB/T 23649-2009 | 印刷技术 过程控制 印刷用反射密度计的光学、几何学和测量学要求 | 现行 | 2009-11-01 | 找相似 |
| GB/T 18722-2002 | 印刷技术 反射密度测量和色度测量在印刷过程控制中的应用 | 现行 | 2003-01-01 | 找相似 |
| GB/T 12822-1991 | 摄影反射密度测量的几何条件 | 废止 | 1992-03-01 | 找相似 |
| GB/T 12823.4-2026 | 摄影和图形技术 密度测量 第4部分：反射密度的几何条件 | 即将实施 | 2027-02-01 | 找相似 |
| GB/T 47625-2026 | 精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量 | 即将实施 | 2026-12-01 | 找相似 |
| GB/T 31786-2015 | 烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法 | 现行 | 2015-11-27 | 找相似 |
| YC/T 236-2008 | 烟草及烟草制品 箱内片烟密度偏差率的无损检测 电离辐射法 | 废止 | 2008-04-14 | 找相似 |
| GB/T 20220-2006 | 塑料薄膜和薄片 样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定 称量法（称量厚度） | 现行 | 2006-10-01 | 找相似 |
| GB/T 42674-2023 | 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法 | 现行 | 2024-03-01 | 找相似 |
| YS/T 839-2012 | 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 | 现行 | 2013-03-01 | 找相似 |
| GB/T 33399-2016 | 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜厚度测定方法 | 现行 | 2017-07-01 | 找相似 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-10-01 | 找相似 |
| GB/T 33051-2016 | 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法 | 现行 | 2017-05-01 | 找相似 |
| GB/T 36969-2018 | 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法 | 现行 | 2018-12-28 | 找相似 |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-16 | —— |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-16 | —— |
| GB/T 24328.2-2009 | 卫生纸及其制品 第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定 | 废止 | 2010-02-01 | 找相似 |