首页/GB/T 24574-2009 相似标准

硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities

GB/T 24574-2009推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法废止2015-12-102017-01-01
GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法废止2014-07-242015-02-01
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法废止2014-07-242015-02-01
SJ/T 11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法废止2015-04-302015-10-01
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
T/CASAS 036-2025碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法现行2025-04-232025-04-23
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 010-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法现行2019-12-272019-12-31
GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法废止2014-12-312015-09-01
GB/T 1551-2009硅单晶电阻率测定方法废止2009-10-302010-06-01
T/IAWBS 010-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
GB/T 35306-2023硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法现行2023-08-062024-03-01
GB/T 12964-2018硅单晶抛光片现行2018-09-172019-06-01
GB/T 26069-2022硅单晶退火片现行2022-03-092022-10-01
GB/T 12962-2015硅单晶现行2015-12-102017-01-01