Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32188-2015 | 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 5252-2020 | 锗单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-05-01 |
| GB/T 8760-2020 | 砷化镓单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2020-09-29 | 2021-08-01 |
| GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/ZSA 231-2024 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2024-05-15 | 2024-05-16 |
| T/IAWBS 015-2021 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2021-09-15 | 2021-09-22 |
| JC/T 2513-2019 | 磷酸钛氧钾单晶元件抗灰迹性能测试方法 | 现行 | 2019-05-02 | 2019-11-01 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| DB33/ 972-2015 | 太阳能晶体硅单位产品可比电耗限额及计算方法 | 有更新版 | 2015-06-23 | 2015-10-01 |
| GB/T 43787-2024 | 曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 20871.61-2024 | 有机发光二极管显示器件 第6-1部分：光学和光电参数测试方法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-08-01 |
| GB/T 37946.4-2025 | 有机发光材料测试方法 第4部分：电学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 20871.63-2021 | 有机发光二极管显示器件 第6-3部分：图像质量测试方法 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 20871.62-2025 | 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法 视觉质量和亮室性能 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| GB/T 39771.2-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 38621-2020 | 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |