| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
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| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2008-02-01 | 找相似 |
| GB/T 40007-2021 | 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 | 现行 | 2021-12-01 | 找相似 |
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1992-03-01 | 找相似 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2020-02-01 | 找相似 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
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| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| NB/T 51033-2015 | 煤层开采覆岩破坏动态视电阻率测试方法 | 现行 | 2015-09-01 | 找相似 |
| SJ/T 11627-2016 | 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法 | 现行 | 2016-09-01 | 找相似 |
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| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
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