半导体器件的机械标准化 第6-20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形J形引线封装(SOJ)尺寸测量方法

Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages—Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)

GB/T 15879.620-2026推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
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GB/T 17023-1997半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范现行1998-09-01找相似
GB/T 17024-1997半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范现行1998-09-01找相似
GB/T 7423.2-1987半导体器件散热器 型材散热器现行1987-11-01找相似
GB/T 41040-2021宇航用商业现货(COTS)半导体器件 质量保证要求现行2022-07-01找相似
GB/T 11499-2001半导体分立器件文字符号现行2002-06-01找相似
GB/T 2900.32-1994电工术语 电力半导体器件现行1995-01-01找相似
GB/T 15651.4-2017半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件半导体激光器现行2017-12-01找相似
GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)现行2013-06-01找相似
GB/T 20870.1-2007半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器现行2007-09-01找相似
GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第1部分:总则现行1997-01-01找相似
GB/T 43493.1-2023半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类现行2024-07-01找相似
GB/T 43493.2-2023半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法现行2024-07-01找相似
GB/T 15651.7-2024半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管现行2024-07-01找相似
GB/T 15651.5-2024半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器现行2024-07-01找相似
GB/T 43493.3-2023半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法现行2024-07-01找相似
GB/T 15651.6-2023半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管现行2024-04-01找相似
GB/T 20870.2-2023半导体器件 第16-2部分:微波集成电路 预分频器现行2023-09-07找相似
GB/T 20870.5-2023半导体器件 第16-5部分:微波集成电路 振荡器现行2024-01-01找相似