JB/T 7483-1994 相似标准 第2页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 46809.1-2025半导体器件 第19-1部分:智能传感器 智能传感器的控制方案即将实施2026-07-01找相似
T/CECA 35-2019金属氧化物半导体气体传感器现行2020-01-28——
GB/T 20521.4-2025半导体器件 第14-4部分:半导体传感器半导体加速度计即将实施2026-07-01找相似
T/CECA 35-2019金属氧化物半导体气体传感器现行2020-01-28——
GB/T 20521.1-2026半导体器件 第14-1部分:半导体传感器传感器总规范即将实施2026-11-01找相似
GB/Z 46809.2-2026半导体器件 第19-2部分:智能传感器 低功耗运行的智能传感器及电源的规格说明现行——找相似
GB/T 20521.12-2026半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法即将实施2027-03-01找相似
GB/T 4937.40-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法即将实施2026-07-01找相似
HB 8618-2021航空用光纤光栅应变传感器性能测试要求现行2021-07-01找相似
GB/T 13823.6-1992振动与冲击传感器的校准方法 基座应变灵敏度测试现行1993-10-01找相似
T/GDCKCJH 025-2020分布式光纤温度/应变/振动传感器性能参数测定方法现行2020-10-01——
JG/T 422-2013土木工程用光纤光栅应变传感器现行2014-01-01找相似
T/GDCKCJH 025-2020分布式光纤温度/应变/振动传感器性能参数测定方法现行2020-10-01——
JJF 1469-2014应变式传感器测量仪校准规范现行2014-11-01找相似
GB/T 6616-2023半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法现行2024-03-01找相似
SJ/T 2658.5-2015半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻现行2016-04-01找相似
SJ/T 11487-2015半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法现行2015-10-01找相似
GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法废止2010-06-01找相似