SY/T 5784-1993 相似标准 第9页

更新时间 2026-10-28
标准号 标准名称 状态 实施日期 相似标准
KA/T 4-2023 煤层底板采动破裂深度压水试验测试方法 现行 2024-01-31 找相似
YD/T 4766-2024 5G深度包检测系统测试方法 现行 2024-10-01 找相似
GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 废止 2018-08-01 找相似
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 现行 2022-07-01 找相似
YD/T 1900-2009 深度包检测设备测试方法 现行 2009-09-01 找相似
GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 现行 2009-10-01 找相似
GB/T 3810.6-2016 陶瓷砖试验方法 第6部分:无釉砖耐磨深度的测定 现行 2017-03-01 找相似
GB/T 20175-2025 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 现行 2026-01-01 找相似
GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 现行 2021-12-01 找相似
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法 现行 2017-01-01 找相似
YB/T 6121-2023 钢的晶间氧化深度测定方法 现行 2024-07-01 找相似
T/CSO 1-2021 电导率温度深度剖面仪海上比测方法 现行 2021-07-01 ——
T/ZOIA 30001-2022 MEMS高深宽比结构深度测量方法 光谱反射法 现行 2022-12-29 ——
T/GRM 092-2023 煤矿矿井水深度回用系统反渗透阻垢剂性能评价试验方法 现行 2024-01-01 ——
T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 现行 2020-11-10 ——
T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 现行 2020-11-10 ——
T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 现行 2020-11-10 ——
T/CMA HG021-2020 轮胎试验路面构造深度测量方法 手工铺砂法 现行 2020-03-01 ——