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DL/T 2979.1-2025
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电力设备大气辐射试验方法 第1部分:集成电路中子单粒子效应 |
即将实施 |
2026-06-18 |
找相似 |
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SJ/T 11566-2016
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集成电路自动冲切成型设备 |
现行 |
2016-06-01 |
找相似 |
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JJF 1238-2022
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集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范 |
现行 |
2023-03-26 |
找相似 |
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SJ/T 11230-2001
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集成电路卡通用规范 第4部分:接口设备基本应用编程接口规范 |
废止 |
2001-05-01 |
找相似 |
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GB/T 16791.1-1997
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金融交易卡 集成电路卡与卡接受设备之间的报文 第1部分:概念与结构 |
废止 |
1998-03-01 |
找相似 |
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YD/T 1329-2004
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通信设备过电压过电流保护用集成电路型保安单元 |
现行 |
2005-03-01 |
找相似 |
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T/TAF 055-2020
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面向物联网设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求 |
现行 |
2020-04-09 |
—— |
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T/TAF 056-2020
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面向消费电子设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求 |
现行 |
2020-04-09 |
—— |
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SJ/T 12024-2025
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半导体设备 集成电路制造 用离子注入机测试方法 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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SJ/T 12023-2025
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半导体设备 集成电路制造用化学气相淀积设备(CVD)测试方法 |
现行 |
2026-03-01 |
找相似 |
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JJF 1160-2006
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中小规模数字集成电路测试设备校准规范 |
现行 |
2007-03-08 |
找相似 |
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GB/T 42968.5-2025
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集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分:工作台法拉第笼法 |
现行 |
2025-12-02 |
找相似 |
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GB/T 6798-1996
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半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
现行 |
1997-01-01 |
找相似 |
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JR/T 0025.7-2018
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中国金融集成电路(IC)卡规范 第7部分:借记/贷记应用安全规范 |
现行 |
2018-11-28 |
找相似 |
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JR/T 0025.14-2018
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中国金融集成电路(IC)卡规范 第14部分:非接触式IC卡小额支付扩展应用规范 |
现行 |
2018-11-28 |
找相似 |
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YD/T 3037.1-2023
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通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端 |
现行 |
2024-04-01 |
找相似 |
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JR/T 0025.18-2018
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中国金融集成电路(IC)卡规范 第18部分:基于安全芯片的线上支付技术规范 |
现行 |
2018-11-28 |
找相似 |
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JR/T 0025.4-2018
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中国金融集成电路(IC)卡规范 第4部分:借记/贷记应用规范 |
现行 |
2018-11-28 |
找相似 |