半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式

Semiconductor die products—Part 2: Exchange data formats

GB/T 35010.2-2018 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2018-03-15

实施日期

2018-08-01

基础信息

标准号

GB/T 35010.2-2018

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

标准层级

国家标准

GB/T 35010.2-2018 相关专题

GB/T 35010.2-2018 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
T/ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头 现行 2024-12-06 2024-12-06
GB/T 6217-2026 半导体分立器件 小功率双极型晶体管空白详细规范 即将实施 2026-03-31 2026-10-01
T/CPSS 1004-2025 车规级功率半导体模块动态特性测试规范 现行 2025-01-22 2025-01-23
GB/T 11499-2026 半导体分立器件文字符号 即将实施
GB/T 45762-2025 精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源 现行 2025-06-30 2026-01-01
GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求 现行 2018-03-15 2018-08-01
GB/T 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD) 现行 2024-04-25 2024-11-01
SJ/T 11818.3-2022 半导体紫外发射二极管 第3部分:器件规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11851-2022 半导体分立器件 S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
GB/T 10236-2006 半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则 现行 2006-11-08 2007-04-01
GB/T 15529-1995 半导体发光数码管空白详细规范 现行 1995-04-06 1995-11-01
SJ/T 1486-2016 半导体分立器件 3CG180型硅PNP高频高反压小功率晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
T/SZBSIA 007-2022 IC类半导体固晶机检测规范 现行 2022-09-23 2022-09-24
GB/T 7576-2026 半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范 即将实施 2026-03-31 2026-10-01
GB/T 46227-2025 半导体单晶材料透过率测试方法 即将实施 2025-08-29 2026-03-01
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸 现行 2021-03-09 2021-10-01
SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽 现行 2015-10-10 2016-04-01
T/SZBSIA 007-2025 IC类半导体固晶机检测规范 现行 2025-12-02 2025-12-02
SJ/T 10435-1993 半导体电阻应变计总规范 现行 1993-12-17 1994-06-01
YY 0845-2011 激光治疗设备 半导体激光光动力治疗机 现行 2011-12-31 2013-06-01
GB/T 15873-1995 半导体设施接口技术文件编写导则 现行 1995-12-22 1996-08-01
GB/T 4728.5-2018 电气简图用图形符号 第5部分:半导体管和电子管 现行 2018-07-13 2019-02-01
GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法 现行 2021-03-09 2021-10-01
SJ/T 11818.2-2022 半导体紫外发射二极管 第2部分:芯片规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法 现行 2016-01-15 2016-06-01
GB/T 35850.1-2018 电梯、自动扶梯和自动人行道安全相关的可编程电子系统的应用 第1部分:电梯(PESSRAL) 现行 2018-02-06 2018-09-01