硅外延用三氯氢硅中其他氯硅烷含量的测定 气相色谱法

YS/T 1060-2015YS有色金属

现行

标准状态

发布日期

2015-04-30

实施日期

2015-10-01

基础信息

标准号

YS/T 1060-2015

批准发布部门

工业和信息化部

技术归口

全国有色金属标准化技术委员会

制修订

制定

标准分类

中国标准分类号

H17

国际标准分类号

77.040.30

行业分类

制造业

标准类别

方法标准

标准分类

有色金属

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

50408-2015

备案日期

2015-07-08

适用范围

本标准适用于硅外延用三氯氢硅中其他氯硅烷(包括二氯二氢硅、四氯化硅)含量的测定。测定下限为0.002%。

起草单位

中锗科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司

起草人

刘新军、刘英杰、郑华荣等

YS/T 1060-2015 相关专题

YS/T 1060-2015 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/ZZB 2833-2022高压MOSFET用200 mm硅外延现行2022-12-082022-12-31
GB/T 35310-2017200mm硅外延现行2017-12-292018-07-01
GB/T 11068-2006砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法现行2006-07-182006-11-01
GB/T 14146-2021外延层载流子浓度的测试 电容-电压法现行2021-05-212021-12-01
YS/T 24-2016外延钉缺陷的检验方法现行2016-04-052016-09-01
SJ/T 11275-2002卧式液相外延系统通用规范现行2002-10-302003-03-01
GB/T 14142-2017外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法现行2017-09-292018-04-01
GB/T 30652-2023外延用三氯氢硅现行2023-08-062024-03-01
GB/T 14139-2019外延现行2019-06-042020-05-01
GB/T 30110-2013空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法现行2013-12-172014-05-15
GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法现行2009-10-302010-06-01
GB/T 8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法现行2006-07-182006-11-01
GB/T 44334-2024埋层硅外延现行2024-08-232025-03-01
GB/T 14015-1992硅-蓝宝石外延现行1992-12-281993-08-01
YD/T 3613-2019HF固定无线电监测测向系统开场测试参数和测试方法现行2019-12-242020-04-01