| T/QGCML 1703-2023 | 芯片引脚辅助安装装置 | 现行 | 2023-10-21 | 2023-11-07 |
| T/SUCA 009-2025 | MLCD屏显示一致性技术规范 | 现行 | 2025-06-05 | 2025-06-05 |
| T/CIET 1279-2025 | 碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT） | 现行 | 2025-05-14 | 2025-05-14 |
| T/GXDSL 027-2025 | 人工智能算力芯片性能评估标准 | 现行 | 2025-05-16 | 2025-05-18 |
| T/ACCEM 515-2025 | 高性能高密度沟槽栅IGBT器件 | 现行 | 2025-03-20 | 2025-04-18 |
| T/HBAI 001-2024 | 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 | 现行 | 2024-10-17 | 2024-10-25 |
| T/LASERJS 001-2024 | 激光封接玻璃-金属时可伐合金的预氧化工艺 | 现行 | 2024-09-14 | 2024-10-10 |
| T/CASAS 046-2024 | SiC MOSFET动态反偏(DRB)试验方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 045-2024 | SiC MOSFET动态栅偏试验方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 044-2024 | SiC MOSFET高温高湿反偏试验方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 043-2024 | SiC MOSFET高温反偏试验方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 042-2024 | SiC MOSFET高温栅偏试验方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 037-2024 | SiC MOSFET栅极电荷测试方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 033-2024 | SiC MOSFET功率器件开关动态测试方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 021-2024 | SiC MOSFET阈值电压测试方法 | 现行 | 2024-11-19 | 2024-11-19 |
| T/CASAS 035-2024 | 用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/CASAS 034-2024 | 用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/QGCML 1030-2023 | 激光熔覆头喷嘴与工件表面间用相对位置标定器 | 现行 | 2023-07-13 | 2023-07-29 |
| T/ZZB 2980-2022 | 平板显示用视窗功能面板 | 现行 | 2022-12-08 | 2022-12-31 |
| T/ZZB 2858-2022 | 集成电路 小外形封装引线框架 | 现行 | 2022-12-08 | 2022-12-31 |