首页/GB/T 41765-2022 相似标准

碳化硅单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide

GB/T 41765-2022推荐性国家标准

现行

上传时间：2026-03-14
格式：pdf

GB/T 41765-2022 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/ZZB 2283-2021半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉现行2021-08-262021-09-26
T/CIET 1279-2025碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT）现行2025-05-142025-05-14
T/CASAS 048-2025碳化硅单晶生长用等静压石墨现行2025-04-232025-04-23
T/CASAS 036-2025碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法现行2025-04-232025-04-23
T/IAWBS 001-2021碳化硅单晶现行2021-09-162021-09-23
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 001-2017碳化硅单晶现行2017-12-202017-12-31
GB/T 47404-2026碳化硅单晶即将实施
JC/T 2796-2023碳化硅单晶用高纯石墨粉现行2023-12-202024-07-01
YS/T 1600-2023碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法现行2023-04-212023-11-01
SJ/T 11502-2015碳化硅单晶抛光片规范废止2015-04-302015-10-01
GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片废止2014-12-312015-09-01
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 005-20186 英寸碳化硅单晶抛光片现行2018-12-062018-12-17
T/ZSA 72-2019碳化硅单晶现行2019-12-312020-03-01
GB/T 34520.3-2017连续碳化硅纤维测试方法 第3部分：线密度和密度现行2017-11-012018-05-01