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砷化镓单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide

GB/T 8760-2020推荐性国家标准

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GB/T 8760-2020 相似标准 第3页

标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 41751-2022氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法现行2022-10-142023-02-01
GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2015-12-102016-11-01
T/ZSA 231-2024氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2024-05-152024-05-16
T/IAWBS 015-2021氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2021-09-152021-09-22
GB/T 43088-2023微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法现行2023-09-072024-04-01
SJ/T 10557.3-1994电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法现行1994-08-081994-12-01
T/CASAS 013-2021碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法现行2021-11-012021-12-01
SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法现行2015-04-302015-10-01
GB/T 32189-2015氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法现行2015-12-102016-11-01
GB/T 20229-2022磷化镓单晶现行2022-03-092022-10-01
GB/T 20229-2006磷化镓单晶废止2006-04-212006-10-01
GB/T 44558-2024III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法现行2024-09-292025-04-01
GB/T 30868-2025碳化硅单晶片微管密度测试方法现行2025-08-012026-02-01
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
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GB/T 11114-1989人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法废止1989-03-311990-03-01
GB/T 36705-2018氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法现行2018-09-172019-06-01
T/CASAS 031-2023面向5G基站应用的Sub-6GHz氮化镓功放 模块测试方法现行2023-06-302023-07-01