| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 37053-2018 | 氮化镓外延片及衬底片通用规范 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 39144-2020 | 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| T/CASAS 022-2022 | 三相智能电表用氮化镓场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2022-12-09 | 2022-12-09 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YS/T 1654-2023 | 氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1653-2023 | 氮化镓衬底片 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| SJ/T 11396-2009 | 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片 | 废止 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 24574-2009 | 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 42676-2023 | 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 32278-2025 | 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 46227-2025 | 半导体单晶材料透过率测试方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/IAWBS 016-2022 | 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法 | 现行 | 2022-03-17 | 2022-03-24 |