Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45770-2025 | 表面化学分析原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 | 现行 | 2026-01-01 | 相似 |
| GB/T 43661-2024 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准 | 现行 | 2024-10-01 | 相似 |
| GB/T 40128-2021 | 表面化学分析原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法 | 现行 | 2021-12-01 | 相似 |
| GB/T 47101-2026 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序 | 即将实施 | 2026-08-01 | 相似 |
| GB/T 32262-2015 | 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法 | 现行 | 2017-01-01 | 相似 |
| GB/T 36052-2018 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式 | 现行 | 2019-02-01 | 相似 |
| GB/T 42659-2023 | 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准 | 现行 | 2024-03-01 | 相似 |
| GB/T 22461.2-2023 | 表面化学分析 词汇 第2部分： 扫描探针显微术术语 | 现行 | 2023-09-01 | 相似 |
| GB/T 42543-2023 | 表面化学分析 扫描探针显微术 悬臂梁法向弹性常数的测定 | 现行 | 2023-09-01 | 相似 |
| T/GAIA 033-2025 | 表面化学分析 扫描探针显微镜数据储存格式 | 现行 | 2025-06-04 | —— |
| GB/T 47065-2026 | 表面化学分析表面表征 共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量 | 即将实施 | 2026-08-01 | 相似 |
| GB/T 31227-2014 | 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 | 现行 | 2015-04-15 | 相似 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2016-11-01 | 相似 |
| T/SPSTS 031-2023 | 石墨烯材料表面电势测量原子力显微术 | 现行 | 2023-11-25 | —— |
| GB/T 47185-2026 | 微束分析分析电子显微术 用于电子能量损失谱元素分析的能量标尺校准程序 | 即将实施 | 2026-09-01 | 相似 |
| GB/T 29559-2013 | 表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析 | 现行 | 2014-03-01 | 相似 |
| GB/T 20176-2025 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 现行 | 2026-01-01 | 相似 |
| GB/T 20176-2006 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 废止 | 2006-11-01 | 相似 |