半导体器件 微机电器件 MEMS总规范

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Generic specification for MEMS

GB/T 32817-2016推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
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GB/T 32817-2016半导体器件微机电器件 MEMS总规范现行2016-08-292017-03-01
GB/T 41853-2022半导体器件微机电器件 晶圆间键合强度测量现行2022-10-122022-10-12
GB/T 41852-2022半导体器件微机电器件 MEMS结构黏结强度的弯曲和剪切试验方法现行2022-10-122022-10-12
GB/T 47753-2026微机电系统(MEMS)技术 车规级MEMS半导体气体传感器技术规范即将实施2026-07-022027-02-01
DB32/T 4894-2024微机电系统半导体气体传感器性能检测方法现行2024-11-072024-12-07
GB/T 4937.28-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级即将实施2026-02-272026-09-01
GB/T 47752-2026微机电系统(MEMS)技术 柔性微机电器件循环弯曲变形后电气特性测试方法即将实施2026-07-022027-02-01
GB/T 12565-1990半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)现行1990-12-121991-10-01
GB/T 36359-2018半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范现行2018-06-072019-01-01
GB/T 43366-2023宇航用半导体分立器件通用规范现行2023-11-272024-03-01
GB/T 18904.3-2002半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范现行1990-12-062003-05-01
GB/T 5965-2000半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范现行2000-01-032000-07-01
GB/T 6588-2000半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范现行2000-10-172001-10-01
GB/T 13151-2005半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3篇 电流大于 100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范现行2005-03-232005-10-01
GB/T 13150-2005半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范现行2005-03-232005-10-01
GB/T 18904.1-2002半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范现行2002-12-042003-05-01
GB/T 6589-2002半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管 电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管) 空白详细规范现行2002-12-042003-05-01
GB/T 18904.4-2002半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范现行2002-12-042003-05-01