| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10111-1991 | GH3123型集成电路自动测试仪 | 现行 | 1991-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 10196-1991 | 中小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法 | 现行 | 1991-12-01 | 找相似 |
| SJ/T 10195-1991 | 中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件 | 现行 | 1991-12-01 | 找相似 |
| GB/T 48178-2026 | 集成电路电子设计自动化工具测试方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 15879.5-2018 | 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值 | 现行 | 2019-04-01 | 找相似 |
| GB/T 41213-2021 | 集成电路用全自动装片机 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 11566-2016 | 集成电路自动冲切成型设备 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| GB/T 15879-1995 | 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值 | 废止 | 1996-08-01 | 找相似 |
| GB/T 48179-2026 | 集成电路电子设计自动化工具术语 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 | 现行 | 1997-01-01 | 找相似 |
| YD/T 3037.1-2023 | 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路 模拟开关测试方法 | 现行 | 2018-08-01 | 找相似 |
| GB/T 43226-2023 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | 现行 | 2024-01-01 | 找相似 |
| GB/T 42838-2023 | 半导体集成电路 霍尔电路测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 42848-2023 | 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| GB/T 14031-1992 | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | 现行 | 1993-08-01 | 找相似 |
| YD/T 3037.2-2023 | 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |
| GB/T 43040-2023 | 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 | 现行 | 2024-04-01 | 找相似 |