Electrostatic discharge susceptibility test for bypass diode applied in photovoltaic modules
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11817-2022 | 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.1-2022 | 半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.3-2022 | 半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.2-2022 | 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11880-2022 | 发光二极管制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10061-1991 | 2CV3型硅肖特基势垒混频二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 39771.2-2021 | 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 45543-2025 | 有机发光二极管显示器件用基板玻璃 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 38621-2020 | 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 36360-2018 | 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| DB35/T 2107-2022 | 紫外发光二极管测评方法 | 现行 | 2022-12-27 | 2023-03-27 |
| GB/T 36356-2018 | 功率半导体发光二极管芯片技术规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 36357-2018 | 中功率半导体发光二极管芯片技术规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 36358-2018 | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 33762-2017 | 有机发光二极管（OLED）电视机显示性能测量方法 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 30241.1-2013 | 齐纳二极管安全栅 第1部分：通用技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| T/CSA 048-2019 | 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |
| T/CSA 047-2019 | 发光二极管热阻抗测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |