DL/T 2553-2022预览图

DL/T 2553-2022 相似标准 第5页

更新时间 2026-10-24
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 26074-2010锗单晶电阻率直流四探针测量方法现行2011-10-01找相似
GB/T 34520.6-2017连续碳化硅纤维测试方法 第6部分:电阻率现行2018-02-01找相似
GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量方法废止2008-02-01找相似
GB/T 40007-2021纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则现行2021-12-01找相似
GB/T 12968-1991纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法现行1992-03-01找相似
GB/T 5167-2018烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定现行2019-06-01找相似
GB/T 351-2019金属材料 电阻率测量方法现行2020-02-01找相似
GB/T 1692-2008硫化橡胶 绝缘电阻率的测定现行2008-09-01找相似
GB/T 39978-2021纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法现行2021-12-01找相似
GB/T 3048.3-2007电线电缆电性能试验方法 第3部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验现行2008-05-01找相似
GB/T 11073-2025硅片径向电阻率变化测量方法即将实施2026-05-01找相似
T/CASME 2020-2025低温封接玻璃体积电阻率的测定现行2025-08-07——
T/GRM 079-2023岩石电阻率测试及各向异性表征方法现行2023-11-29——
T/CPIA 0051-2023晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法(TLM)现行2023-10-30——
T/CASAS 019-2021微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法现行2021-12-01——
T/CSTM 00252-2020碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法现行2020-10-24——
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-31——
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-31——